超高精度波前传感器HASO HP 产品系列基于Shack-Hartmann技术，能够同时对相位和强度进行直接测量，测量快速、准确；对环境震动不敏感，是工业领域与科研领域的理想选择。
产品特点：
● 超高的绝对测量精度 (λ/1000)
● 可以直接测量发散光或会聚光的波前
● 可以测量PSF、MTF、M2、Strehl ratio等参数
● 可提供三种语言的软件开发包：C，LabVIEW，MATLAB
应用领域：
● 超高精度光学元器件性能检测，如：标准透镜/非球面透镜性能检测、球面镜检测、平面镜检测等
● 复杂光学系统的检测与装调，如：平行光管、望远镜系统、高级相机的检测与装调、复杂光学系统的光学调整等
规格指标：
产品图片 |
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产品型号 | HASO HP 16 | HASO UHP |
通光口径(mm) | 4.7 × 5.8 | 18.0 × 13.2 |
微透镜个数 | 16 × 20 | 15 × 11 |
空间分辨率 | ~ 290 μm | 1.2 mm |
倾斜测量范围 | > ±3° (500λ) | ±10 mrad |
倾斜测量灵敏阈 | 1 μrad | 80 nrad |
曲率半径测量范围 | ±0.040 ~ ±∞ | ±0.87 ~ ±∞ |
曲率测量灵敏阈 | 2×10-4 m-1 | |
可测最大NA | > 0.06 | 0.0066 |
重复性精度 | < λ/400 | |
相对波前测量精度 | ~ λ/300 | ~ λ/2000 |
绝对波前测量精度 | ~ λ/200 | ~ λ/1000 |
最大采集频率 | 50 Hz | 4 Hz |
数据处理频率 | 30Hz (@ CPU 3GHz, RAM 512M) | |
外触发方式 | TTL | |
工作波段 | 350~1100 nm | |
校准波长 | A (400~600 nm) B (500~700 nm) C (630~900 nm) D (800~1100 nm) | 405 nm |
扩展校准波段(可选) | A† (400~700 nm) B† (500~900 nm) C† (650~1100 nm) | |
尺寸 | 75 x 62 x 68 | |
重量 | 510 g | |
工作温度 | 15~30 °C | |
电气接口 | FireWire | Giga Ethernet |
额定功率 | 6 W | |
操作系统 | Win7 (x86/x64) | |
测量软件 | WaveView | |
